Droppformanalysator - DSA100W - Krüss

Avancerad ytanalys av wafers för kvalitetskontroll

DSA100W Drop Shape Analyzer från Krüss är konstruerad för automatiserad kvalitetskontroll av waferytor och andra runda prover, med fokus på standardiserad bedömning av ytrenhet och beläggningseffektivitet. Genom mätning av kontaktvinkel utvärderar instrumentet homogeniteten hos ytrengöring och särskiljer beläggningsegenskaper, särskilt vid åtskillnad av vätningsegenskaper hos exponerad kontra oexponerad fotolack.

Användningsområden

Speciellt designad för halvledar- och mikroelektronikindustrin betjänar DSA100W flera användningsområden. Den är idealisk för utvärdering av rengörings- och beläggningsenhetlighet på wafers, bedömning av vidhäftning mellan wafers och beläggningar, samt undersökning av vätning av fotolacker, både exponerade och oexponerade. Dessutom sträcker sig dess tillämpning till analys av runda prover som hårddiskar och bromsskivor, vilket gör det till ett mångsidigt verktyg för ytanalys.

Mättekniker och fördelar

Hjärtat i DSA100W ligger i dess mjukvarustyrda uppställning med ett roterande provbord som säkerställer snabba och noggranna kontaktvinkelmätningar över vilken waferposition som helst. Denna precision förstärks ytterligare av ett kontrollerat doseringssystem som minskar avvikelser vid förvätning av mätningar. Med integrering av ADVANCE-mjukvaran automatiserar instrumentet mätprocessen, vilket möjliggör högt genomflöde med standardiserade procedurer. Hög bildkvalitet, uppnådd genom en högupplöst kamera och kvalitetszoomobjektiv, garanterar tillförlitlig droppformanalys för exakta kontaktvinkelmätningar.